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ATE自动测试系统
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飞针式在线测试机

1240-01/-02/-03 飞针式测试机的特点对多品种少批量基板提供高速,高精度测试的解决方案。使用标准配备的4线式低阻测试功能除检查IC引脚的开焊外,亦可以对虽电气导通但接触不良(虚焊)的引脚潜在不良进行测试。对使用历来的检查方式难以检测的场效应管(FET), 继电器(Relay), 3端子调节阀(3 leads regulator)的动态测试亦可完成。可通过增设I/O方式对应将来可能增加的各种周边设备及特殊测试要求。最适用于检测IC引脚的虚焊,对焊接状况提供品... Hioki 日置

电容式飞针测试机

1116-7X 飞针式测试机的特点(1116,1117,1270等)1116是使用电容测试方式的高速测试机。相比历来的电阻方式测试速度大幅度提高(例如网络数100,端点数500,测试速度可提高10倍以上)。1117,1270/1是两面测试,除使用电容,电阻测试方式进行开短路测试外,通过4线式低阻测试对内层盲埋孔(IVH)的微开等潜在不良亦可检测。通过4线式低阻测试功能对微细网络的电镀不良进行检测。每秒100步超高速测试1116-71:1116-72:(外挂式单台面)1116-73:(含1... Hioki 日置

立式飞针测试机

1117 飞针式测试机的特点(1116,1117,1270等)1116是使用电容测试方式的高速测试机。相比历来的电阻方式测试速度大幅度提高(例如网络数100,端点数500,测试速度可提高10倍以上)。1117,1270/1是两面测试,除使用电容,电阻测试方式进行开短路测试外,通过4线式低阻测试对内层盲埋孔(IVH)的微开等潜在不良亦可检测。通过4线式低阻测试功能对微细网络的电镀不良进行检测。4只手臂最高速每步0.015秒两面同时测试配备标准4端子低电阻测试功能,... Hioki 日置

立式飞针测试机

1270/1271 飞针式测试机的特点(1116,1117,1270等)1116是使用电容测试方式的高速测试机。相比历来的电阻方式测试速度大幅度提高(例如网络数100,端点数500,测试速度可提高10倍以上)。1117,1270/1是两面测试,除使用电容,电阻测试方式进行开短路测试外,通过4线式低阻测试对内层盲埋孔(IVH)的微开等潜在不良亦可检测。通过4线式低阻测试功能对微细网络的电镀不良进行检测。两面高速测试兼具优良性价比1270 测试范围:394 (W) × 324 (D)mm12... Hioki 日置

上飞针/下治具组合式测试机

1118 Hioki 日置 飞针式测试机的特点(1116,1117,1270等)1116是使用电容测试方式的高速测试机。相比历来的电阻方式测试速度大幅度提高(例如网络数100,端点数500,测试速度可提高10倍以上)。1117,1270/1是两面测试,除使用电容,电阻测试方式进行开短路测试外,通过4线式低阻测试对内层盲埋孔(IVH)的微开等潜在不良亦可检测。通过4线式低阻测试功能对微细网络的电镀不良进行检测。两面高速测试兼具优良性价比1270 测试范围:394 (W) × 324 (D)mm12... Hioki 日置

1234-00/-01 专用治具式HDI基...

1234-00/-01 治具式测试机的特点(1234-00/-01、1107-60/-61) 高精度步进检查方式同中央旋转台系统相结合,专用固定治具,高速测试适用于基板的量产检查标准配备4腺式低阻测试机能,可通过高精度微小电阻的测试提供盲埋孔品质保证的解决方案 高精度专用治具可保证对精细节距的IC载板进行测试标配4腺式低阻测试机能可测范围400 μΩ~40 mΩの4使用中央旋转台系统构造大幅度提高产能,降低单片测试时间由于对拼板使用步进测试方式,对精细节距基板可... Hioki 日置